Oferujemy serię mikroskopów USB 3.0 z oświetleniem współosiowym i oprogramowaniem pomiarowym Metric do integracji z własnymi urządzeniami i systemami. Dzięki wyjątkowo małej konstrukcji mikroskopy USB 3.0 doskonale nadają się do instalacji w ograniczonych przestrzeniach. Doskonała optyka w połączeniu z 5,6-megapikselową kamerą USB 3.0 zapewnia doskonałe obrazy. W połączeniu z oprogramowaniem pomiarowym Metric PE i Metric MT możliwe są szybkie i precyzyjne pomiary 2D oraz dokumentacja. Alternatywnie, system może być dostarczony z kamerą HDMI, jeśli mają być przeprowadzane tylko kontrole wizualne (podłączenie tylko do monitora PC bez użycia komputera). Trzy modele są dostępne z obiektywem 3x, 5x i 10x. Na życzenie wersje T-ILC są również dostępne z różnymi statywami lub montowane na precyzyjnych prowadnicach. Dane techniczne trzech modeli można znaleźć na kolejnych stronach produktów.
Celem oświetlenia współosiowego jest oświetlanie powierzchni o właściwościach odblaskowych: oświetlenie współosiowe jest szczególnie odpowiednie do błyszczących lub odblaskowych powierzchni, takich jak metale, szkło lub polerowane półprzewodniki. W tym przypadku przeszkadzające odbicia są zminimalizowane i można zobaczyć drobne szczegóły. Obrazowanie bez cieni: Oświetlenie odbywa się wzdłuż osi optycznej (współosiowo do kierunku obserwacji). W rezultacie nie ma cieni ani niepożądanych kontrastów, które mogłyby wystąpić przy ukośnym padaniu światła. Podkreślenie struktur powierzchni: Specjalne prowadzenie światła sprawia, że rysy, defekty lub mikrostruktury na powierzchni są szczególnie dobrze widoczne. Kontrola materiałów przezroczystych lub półprzezroczystych: Oświetlenie koncentryczne umożliwia również wizualizację wtrąceń, pęknięć lub innych defektów w materiałach przezroczystych, takich jak szkło lub folie.
Jak działa oświetlenie współosiowe? Prowadzenie światła: Źródło światła wysyła światło przez rozdzielacz wiązki lub półlustro do układu optycznego. Światło pada na próbkę prostopadle (współosiowo do kierunku obserwacji). Światło odbite od powierzchni jest następnie kierowane do obiektywu i do obserwatora przez ten sam rozdzielacz wiązki. Odbicie: Światło padające pionowo powoduje szczególnie silne odbicia na płaskich powierzchniach. Struktury, które nie są płaskie lub lekko nachylone, wydają się ciemniejsze. Obszary zastosowań oświetlenia koncentrycznego obejmują:
- Badanie polerowanych metali, stopów lub próbek ceramicznych
- Przemysł półprzewodnikowy
- Kontrola wafli lub mikrochipów pod kątem wad powierzchniowych
- Kontrola jakości
- Wykrywanie pęknięć włoskowatych, wtrąceń pyłu lub wad powierzchniowych w materiałach odblaskowych
- Zastosowania medyczne
- Badanie preparatów mikroprzekrojów lub próbek odblaskowych
Zalety oświetlenia współosiowego
- Umożliwia jednorodne, pozbawione cieni oświetlenie
- Optymalizuje wyświetlanie mikroskopijnych struktur powierzchniowych
- Idealne do materiałów odblaskowych i przezroczystych
- Poprawia wykrywanie defektów, pęknięć lub nierówności
Podsumowanie
Oświetlenie współosiowe odgrywa decydującą rolę w mikroskopii, jeśli chodzi o badanie błyszczących, odblaskowych lub precyzyjnych powierzchni bez zakłócania cieni lub odbić. Oferuje wyraźne korzyści w kontroli jakości, testowaniu materiałów i badaniu drobnych struktur powierzchni.
