La serie di obiettivi Resolv4K è stata completamente riprogettata per ottenere un aumento massiccio nell'uso dei moderni sensori con densità di pixel più elevate. Numerose opzioni di adattatori ottici superiori permettono agli utenti di utilizzare una gamma di sensori che possono essere 1/2", APS e formati più grandi. All'estremità anteriore dello zoom, gli attacchi di lenti complesse (attachment lenses) permettono agli utenti il meglio di entrambi i mondi: Mentre i piccoli ingrandimenti degli attacchi delle lenti permettono grandi campi visivi senza perdita di illuminazione, gli alti ingrandimenti danno una risoluzione da microscopio a distanze di lavoro estremamente lunghe. L'obiettivo Resolv4K non è solo progettato per una maggiore correzione assiale del colore della lunghezza d'onda visibile, ma presenta anche una messa a fuoco della lunghezza d'onda notevolmente migliorata grazie alle opzioni VisNIR e SWIR. Gli attacchi delle lenti per aperture maggiori aumentano il campo visivo utilizzabile (FOV) per le opzioni di illuminazione coassiale.

 

La combinazione dell'ampio campo visivo del Resolv4K con l'eccezionale risoluzione dell'obiettivo e i sensori ad alta densità di pixel si traduce in un'acquisizione più rapida di un'area di immagine più ampia, rendendolo eccellente per le applicazioni di ispezione rapida e misurazione di precisione. Un campo visivo più grande del 400 - 600% rispetto ai sistemi zoom tradizionali. La serie di lenti Resolv4K ha opzioni di rivestimento per lunghezze d'onda visibili (VIS), VisNIR e SWIR. 

 

Le opzioni della lunghezza d'onda visibile forniscono una migliore correzione assiale del colore rispetto alle lenti zoom esistenti. L'opzione VisNIR (da visibile a vicino infrarosso) permette un'ispezione precisa della superficie nel blu profondo, mentre l'ispezione sotto la superficie viene eseguita a 1100 nm senza rifocalizzazione o perdita di intensità della luce. Utilizzando la SWIR (radiazione infrarossa a onde corte), si ottiene una penetrazione superficiale ancora più profonda per rilevare danni e difetti alimentari nell'ispezione dei wafer di silicio, tra le altre applicazioni. La serie Resolv4K offre un potere risolutivo significativamente maggiore, fornendo un campo visivo più ampio del 400-600% senza alcuna perdita di dettagli rispetto agli zoom convenzionali. Non c'è quindi bisogno di unire più immagini attraverso esposizioni multiple.

 

La maggiore apertura numerica (NA) di Resolv4K, insieme a una migliore correzione dell'aberrazione, permette capacità di misurazione più precise che mai. Anche confrontando il livello di zoom più alto, 4,5x, con il sistema di zoom 12x, il design Resolv4K offre prestazioni eccezionali, come dimostrato, per esempio, dalle transizioni dei bordi bianchi e neri nelle successive funzioni di trasferimento del contrasto. Le prestazioni del sistema sono mantenute fino agli angoli del sensore in modo da poter misurare più aree rilevanti, indipendentemente dalla posizione nel campo visivo (FOV). Il vostro software di rilevamento dei bordi rileverà la differenza. 

 

Qui sotto troverete il link per scaricare la documentazione con ulteriori dati tecnici e la panoramica dei componenti disponibili.