Cellcheck CIL-XY-Z : l'assistant idéal pour les mesures de profondeur. Pour déterminer sans contact la profondeur des trous de perçage dans les circuits imprimés ou la profondeur des alvéoles dans les cylindres anilox et les cylindres hélio, le comparateur numérique mesure la distance entre deux plans de netteté. Afin de réduire la zone de profondeur de champ, source d'erreur possible, la mesure doit être effectuée avec un grossissement très élevé. C'est pourquoi le système de mesure est livré avec, entre autres, des objectifs d'un grossissement d'environ 900 fois et 1350 fois. Le grossissement se réfère à la représentation sur un écran de PC d'au moins 17" La caméra USB 2.0 de 2592 x 1944 pixels (5 MP) fournit des images de haute qualité qui peuvent concurrencer les principaux microscopes métallurgiques. La livraison comprend également des objectifs avec un grossissement de 200x, 320x et 475x, une mallette de transport ainsi qu'un disque de calibrage de 0,1 mm avec protocole DAkkS et le logiciel de mesure Metric.
L'entraînement pratiquement sans jeu permet une mise au point exacte des plans de netteté. Important pour un résultat de mesure optimal : faites toujours la mise au point sur les plans de netteté supérieur et inférieur du même côté. C'est la seule façon de garantir qu'aucune imprécision ne sera prise en compte dans la mesure. L'éclairage coaxial directement à travers l'objectif joue ici un rôle important. Ce n'est que grâce à ce guidage de la lumière que les plans de mise au point peuvent être identifiés avec précision. Pour un réglage rapide, le levier de la mise au point peut être déplacé sur le côté. Le trépied assure une bonne stabilité lors de la mesure de la profondeur sur des rouleaux ou des matériaux plats. Le réglage sans jeu des axes X et Y de cinq millimètres permet d'avancer entre les plans focaux lors de forts grossissements, lorsque ceux-ci ne peuvent plus être détectés dans le champ de vision.
La photo d'un rouleau anilox (rouleau tramé) de l'impression flexographique présentée ici montre le type d'images obtenues avec un objectif 20x (grossissement d'environ 900x). Le système est d'abord réglé au-dessus du point de focalisation supérieur. Ensuite, la mise au point est effectuée vers le bas, en éliminant le jeu d'inversion restant. Dès que le plan de netteté supérieur est atteint, le comparateur peut être mis à zéro et la mise au point peut se poursuivre jusqu'au deuxième plan de netteté (fond de l'alvéole). La valeur mesurée est ensuite lue sur le cadran ou transmise dans le protocole Excel via un câble de transmission de données et une interface en option. L'avantage de cette méthode de travail est que la valeur de la jauge de profondeur est également affichée dans le masque Metric ou qu'il n'est même pas nécessaire de toucher la jauge si l'on utilise l'interface.
Le logiciel Metric PE ou Metric MT est disponible pour la mesure et la documentation. Cellcheck CIL-XY-Z permet d'enregistrer facilement les images ou de documenter les résultats des images et des mesures dans Excel ou PDF. Le logiciel peut être installé sur un nombre quelconque d'ordinateurs et est activé au moyen d'un dongle, de sorte que le système peut être utilisé par plusieurs personnes. L'étalonnage du logiciel de mesure s'effectue à l'aide du disque d'étalonnage fourni avec une graduation de 0,1 mm et un protocole DAkkS. Une fois l'étalonnage effectué, le logiciel de mesure établit automatiquement un protocole d'étalonnage qui, en combinaison avec le protocole DAkkS du disque d'étalonnage, permet de remonter de manière fiable aux étalons nationaux.
Avec le Cellcheck CIL-XY-Z, vous disposez d'un système de mesure performant pour des mesures de profondeur précises, qui s'intègre parfaitement dans votre gestion des instruments de mesure et fournit des résultats précis et fiables.
Exemples d'applications : Impression : contrôle des cylindres de gaufrage, des plaques d'impression en polymère, des cylindres anilox, des cylindres d'héliogravure, des clichés. Verre et silicium : contrôle des tranches de silicium et des couches minces dans le domaine du photovoltaïque.
