Le module DIC: Differential Interference Contrast. La nouvelle conception du module DIC a permis d'améliorer considérablement la visualisation des différences de hauteur qui ne peuvent normalement pas être représentées avec les techniques à fond clair. Tous les objectifs conçus pour la lumière réfléchie et dotés d'une correction à l'infini sont suffisants pour le domaine microscopique. Lorsque la DIC est utilisée avec de la lumière réfléchie, la géométrie de la surface peut souvent être interprétée comme une véritable représentation tridimensionnelle. Elle fournit une distinction claire entre les zones en relief et les zones abaissées dans l'échantillon. Ces images en relief sont idéales pour l'inspection de surface de wafers, d'écrans LCD, etc.