Descubra nuestro revolucionario microscopio zoom con una distancia de trabajo excepcionalmente larga y un gran aumento, ideal para observaciones precisas incluso en zonas de difícil acceso.
Características principales:
Distancia de trabajo variable: Elija entre 100 mm, 200 mm, 300 mm, 400 mm o 500 mm utilizando diferentes ópticas de sujeción para examinar con facilidad muestras distantes o delicadas.
Diez topes de clic: Estos topes de clic de la óptica de zoom se almacenan en el Metric como niveles de zoom del 1 al 10 y se calibran individualmente. Los niveles de zoom se ajustan de forma reproducible en todo momento gracias a los ajustes a presión.
Zoom 14x: Cubre una amplia gama de aumentos y permite observaciones detalladas con aumentos ópticos de 1,5x a 21x, según el modelo.
Iluminación coaxial reflectante: garantiza imágenes brillantes y nítidas, incluso con grandes aumentos.
Calidad de imagen optimizada: la placa de ondas λ/4, el polarizador y el analizador integrados reducen los reflejos internos y mejoran la claridad de la imagen.
Campos de aplicación
Instalación en máquinas: Para la medición o comparación visual en el proceso de producción junto con el software de medición Metric, por ejemplo, mediante superposición DXF.
Inspección de cámaras de vacío: Permite observar el interior de las cámaras de vacío sin afectar al sistema.
Hornos de reflujo: Supervise los procesos de soldadura con precisión y en tiempo real.
Pruebas de vacío y temperatura extremas: Ideal para pruebas en condiciones extremas, incluidas pruebas a alta y baja temperatura y en vacío.
Sistemas de fabricación de películas: Supervise el recubrimiento y la estructura de películas finas con la máxima precisión.
Boquillas de fibra: Analice la calidad y funcionalidad de las boquillas de fibra en los procesos de producción.
Aplicaciones de cámaras de alta velocidad: Perfectas para observar procesos rápidos como la impresión por chorro de tinta, la inyección de combustible, la soldadura de precisión y el encendido por láser.
Investigación espacial: se utiliza para analizar partículas traídas de muestras de asteroides por sondas espaciales como las de la Agencia Espacial Japonesa JAXA.
