La serie de objetivos Resolv4K ha sido completamente rediseñada para lograr un aumento masivo en el uso de sensores modernos con mayor densidad de píxeles. Las numerosas opciones de adaptadores ópticos superiores permiten a los usuarios utilizar una gama de sensores que pueden ser de 1/2", APS y formatos más grandes. En el extremo delantero del zoom, los complejos accesorios de los objetivos (lentes de fijación) permiten a los usuarios lo mejor de ambos mundos: Mientras que los pequeños aumentos de los acoplamientos de los objetivos permiten grandes campos de visión sin pérdida de iluminación, los altos aumentos proporcionan una resolución similar a la de un microscopio a distancias de trabajo extremadamente largas. El objetivo Resolv4K no sólo está diseñado para una mayor corrección cromática axial de la longitud de onda visible, sino que también cuenta con un enfoque de longitud de onda significativamente mejorado gracias a las opciones VisNIR y SWIR. Los accesorios de lentes para aperturas mayores aumentan el campo de visión (FOV) utilizable para las opciones de iluminación coaxial.
La combinación del gran campo de visión del Resolv4K con la excepcional resolución del objetivo y los sensores de alta densidad de píxeles da como resultado una captura de imágenes más rápida de un área de imagen mayor, lo que lo hace excelente para aplicaciones de inspección rápida y medición de precisión. Un campo de visión entre un 400 y un 600% mayor en comparación con los sistemas de zoom tradicionales. La serie de lentes Resolv4K tiene opciones de revestimiento para las longitudes de onda visibles (VIS), VisNIR y SWIR.
Las opciones de longitudes de onda visibles proporcionan una corrección axial del color mejorada en comparación con los objetivos zoom existentes. La opción VisNIR (del visible al infrarrojo cercano) permite una inspección precisa de la superficie en el azul profundo, mientras que la inspección por debajo de la superficie se realiza a 1100 nm sin reenfoque ni pérdida de intensidad de la luz. Gracias a la radiación infrarroja de onda corta (SWIR), se consigue una penetración aún más profunda en la superficie para detectar daños y defectos alimentarios en la inspección de obleas de silicio, entre otras aplicaciones.
La serie Resolv4K ofrece un poder de resolución significativamente mayor, proporcionando un campo de visión entre el 400 y el 600% más grande sin ninguna pérdida de detalle en comparación con las imágenes de zoom convencionales. Por lo tanto, no es necesario fusionar varias imágenes mediante exposiciones múltiples.
La mayor apertura numérica (NA) de Resolv4K, junto con una mejor corrección de la aberración, permiten una capacidad de medición más precisa que nunca. Incluso cuando se compara el nivel de zoom más alto, 4,5x, con el sistema de zoom 12x, el diseño Resolv4K ofrece un rendimiento extraordinario, como muestran, por ejemplo, las transiciones de los bordes en blanco y negro en las funciones de transferencia de contraste posteriores. El rendimiento del sistema se mantiene hasta las esquinas del sensor, de modo que se pueden medir múltiples áreas relevantes, independientemente de la posición en el campo de visión (FOV). El software de detección de bordes detectará la diferencia.
A continuación encontrará el enlace para descargar la documentación con más datos técnicos y el resumen de los componentes disponibles.