Módulo DIC: Contraste de interferencia diferencial. Con el rediseño del módulo DIC se ha mejorado significativamente la visualización de diferencias de altura que normalmente no pueden visualizarse con técnicas de campo claro. Todos los objetivos diseñados para luz reflejada con corrección al infinito son suficientes para el rango micro. Cuando se utiliza DIC con luz reflejada, la geometría de la superficie puede interpretarse a menudo como una verdadera representación tridimensional. Proporciona una clara distinción entre las zonas elevadas y deprimidas de la muestra. Estas imágenes en relieve son ideales para la inspección de superficies de obleas, pantallas LCD, etc.