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Delphi Mikroskop für die metallurgische Materialprüfung

 

Spitzentechnologie für anspruchsvolle materialwissenschaftliche Anwendungen. Das ergonomische Design und die hervorragenden modernen Objektive machen das Delphi-X Observer zum idealen Mikroskop für anspruchsvolle materialwissenschaftliche Anwendungen. Das 25 mm Sichtfeld der Okulare und die planapochromatischen Objektive ermöglichen Beobachtungen mit perfekter Farbwiedergabe und hoher Auflösung. Der Delphi-X Observer™ wird standardmäßig mit den planapochromatischen Objektiven BD 5x/0,15 BD 20 mm, 10x/0,30 WD 11 mm und 20x/0,45 WD 3,1 mm sowie den planapochromatischen Objektiven BD 50x/0,80 WD 1 mm und 100x/0,90 WD 1 mm mit Unendlichkorrektur für Hellfeld/Dunkelfeld geliefert.

Das Extended Infinity System (EIS) des Delphi-X Observer™ besteht aus Superweitwinkel-SFWF-Okularen (10x/25 mm), parfokalen Objektiven mit hoher numerischer Apertur (45 mm) und einem Tubusobjektiv mit 200 mm Brennweite. Das Tubusobjektiv mit 200 mm Brennweite verringert den Winkel der Lichtstrahlen, die durch die Optik treten. Dies führt zu einer deutlichen Verbesserung der Farbfehlerkorrektur und des Kontrasts. Die Linsen mit größerem Durchmesser haben eine wesentlich höhere numerische Apertur, wodurch das Auflösungsvermögen des optischen Systems insgesamt verbessert wird. Mit all diesen Eigenschaften bietet der Delphi-X Observer™ eine hervorragende optische Leistung für anspruchsvolle Anwendungen.

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