Cellcheck CIL-XY-Z: Der ideale Helfer für Tiefenmessungen. Zur berührungslosen Bestimmung der Bohrlochtiefe in Leiterplatten oder der Näpfchentiefe in Rasterwalzen und Tiefdruckzylindern misst die digitale Messuhr den Abstand zwischen zwei Schärfeebenen. Um den Tiefenschärfebereich als mögliche Fehlerquelle klein zu halten, muss die Messung mit einer sehr hohen Vergrößerung erfolgen. Im Lieferumfang des Messsystems sind daher u.a. Objektive mit ca. 900-facher und 1350-facher Vergrößerung enthalten. Die Vergrößerung bezieht sich auf die Darstellung auf einem PC-Monitor mit mindestens 17“. Die USB 2.0 Kamera mit 2.592 x 1.944 Pixel (5 MP) liefert qualitativ hochwertige Bilder, die mit führenden metallurgischen Mikroskopen konkurrieren können. Zum Lieferumfang gehören außerdem Objektive mit 200-facher, 320-facher und 475-facher Vergrößerung, ein Transportkoffer sowie eine 0,1 mm Kalibrierscheibe mit DAkkS-Protokoll und die Messsoftware Metric.

Der nahezu spielfreie Antrieb ermöglicht eine exakte Fokussierung der Schärfeebenen. Wichtig für ein optimales Messergebnis: Fokussieren Sie die obere und untere Schärfeebene immer von der gleichen Seite. Nur so ist sichergestellt, dass keine Ungenauigkeiten in die Messung einfließen. Eine wichtige Rolle spielt dabei die koaxiale Beleuchtung direkt durch das Objektiv. Nur durch diese Lichtführung können die Fokusebenen exakt erkannt werden. Zur schnellen Einstellung kann der Hebel an der Fokussierung zur Seite geschoben werden. Das Stativ sorgt für sicheren Stand bei der Tiefenmessung auf Rollen oder Flachmaterial. Die spielfreie X- und Y-Verstellung von fünf Millimetern ermöglicht bei hohen Vergrößerungen das Vorfahren zwischen den Fokusebenen, wenn diese nicht mehr im Sichtfeld erfasst werden können.

Die hier gezeigte Aufnahme einer Aniloxwalze (Rasterwalze) aus dem Flexodruck zeigt die Art der Bilder, die mit einem 20x Objektiv (ca. 900x Vergrößerung) erzielt werden. Das System wird zunächst oberhalb des oberen Fokuspunktes eingestellt. Dann wird nach unten fokussiert, wobei das verbleibende Umkehrspiel eliminiert wird. Sobald die obere Schärfenebene erreicht ist, kann die Messuhr auf Null gestellt und weiter bis zur zweiten Schärfenebene (Näpfchenboden) fokussiert werden. Anschließend wird der Messwert von der Uhr abgelesen oder über ein optionales Datenübertragungskabel und Schnittstelle in das Excel-Protokoll übertragen. Vorteil dieser Arbeitsweise ist, dass der Wert der Tiefenmessuhr zusätzlich in der Metric-Maske angezeigt wird bzw. bei Verwendung des Interfaces die Messuhr gar nicht erst berührt werden muss.

Zur Messung und Dokumentation steht die Software Metric PE oder Metric MT zur Verfügung. Mit Cellcheck CIL-XY-Z können Bilder einfach gespeichert oder Bild- und Messergebnisse in Excel oder PDF dokumentiert werden. Die Software kann auf beliebig vielen Rechnern installiert und wird mittels eines Dongle freigeschaltet, so dass das System von mehreren Personen genutzt werden kann. Die Kalibrierung der Messsoftware erfolgt mit Hilfe der mitgelieferten Kalibrierscheibe mit einer Teilung von 0,1 mm und einem DAkkS-Protokoll. Nach erfolgter Kalibrierung erstellt die Messsoftware automatisch ein Kalibrierprotokoll, das in Verbindung mit dem DAkkS-Protokoll der Kalibrierscheibe eine zuverlässige Rückführung auf nationale Normale ermöglicht.

Mit dem Cellcheck CIL-XY-Z erhalten Sie ein leistungsfähiges Messsystem für präzise Tiefenmessungen, das sich nahtlos in Ihre Messmittelverwaltung integrieren lässt und genaue und zuverlässige Ergebnisse liefert.

Anwendungsbeispiele: Druck: Prüfung von Prägewalzen, Polymerdruckplatten, Rasterwalzen, Tiefdruckzylindern, Klischees. Glas und Silizium: Prüfung von Dünnschicht- und Siliziumwafern in der Photovoltaik.